國家知識產(chǎn)權(quán)局信息顯示，廣立微（上海）技術(shù)有限公司取得一項(xiàng)名為 " 一種具有定位功能的失效分析測試結(jié)構(gòu)及測試芯片 " 的專利，授權(quán)公告號 CN224176679U，申請日期為 2025 年 5 月。
專利摘要顯示，本實(shí)用新型公開了一種具有定位功能的失效分析測試結(jié)構(gòu)，包括上層金屬層、下層金屬層和通孔層，所述通孔層用于連接所述上層金屬層和所述下層金屬層；所述上層金屬層中設(shè)置有多根上層金屬線，所述下層金屬層中設(shè)置有多根下層金屬線；所述通孔層中設(shè)置有多個通孔，分別用于連接所述上層金屬線和所述下層金屬線；所述多個通孔中包括至少一個目標(biāo)通孔，在與所述目標(biāo)通孔連接的所述上層金屬線和 / 或所述下層金屬線上設(shè)置有至少兩個測試引腳；基于至少一根所述上層金屬線上設(shè)置有定位標(biāo)識，用于定位所述目標(biāo)通孔的位置。通過上述方式，本實(shí)用新型通過在上層金屬層中設(shè)置定位標(biāo)識，能夠幫助失效分析人員快速定位待測的目標(biāo)通孔的位置。
天眼查資料顯示，廣立微（上海）技術(shù)有限公司，成立于 2022 年，位于上海市，是一家以從事軟件和信息技術(shù)服務(wù)業(yè)為主的企業(yè)。企業(yè)注冊資本 10000 萬人民幣。通過天眼查大數(shù)據(jù)分析，廣立微（上海）技術(shù)有限公司共對外投資了 1 家企業(yè)，專利信息 22 條，此外企業(yè)還擁有行政許可 4 個。
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本文源自：市場資訊
作者：情報員
